Proceedings of the Topical Conference on Probing the Nanometer Scale Properties of Surfaces and Interfaces: [... held ... on 3 - 4 Oct. 1988 in Atlanta, Ga]
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Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: Topical Conference on Probing the Nanometer Scale Properties of Surfaces and Interfaces Atlanta, Ga (VerfasserIn)
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: New York, NY American Inst. of Physics 1989
Schriftenreihe:Journal of vacuum science and technology / A 7,4
Schlagworte:
Beschreibung:Einzelaufn. e. Zeitschr.-Heftes
Beschreibung:XVIII S., S. 2525 - 2930

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