Cohausz, L. (1987). Charakterisierung tiefer Störstellen in Silizium anhand der differentiellen Analyse von Halleffekt- und Widerstandsmessungen.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Cohausz, Ludwig. Charakterisierung Tiefer Störstellen in Silizium Anhand Der Differentiellen Analyse Von Halleffekt- Und Widerstandsmessungen. 1987.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Cohausz, Ludwig. Charakterisierung Tiefer Störstellen in Silizium Anhand Der Differentiellen Analyse Von Halleffekt- Und Widerstandsmessungen. 1987.
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