Special section on the 1987 ACM SIGMETRICS Conference on Measurement and Modeling of Computer Systems:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: Conference on Measurement and Modeling of Computer Systems Banff, Alberta (VerfasserIn)
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: New York, NY 1988
Schlagworte:
Beschreibung:In: Institute of Electrical and Electronics Engineers: IEEE transactions on software engineering 14 (1988) 4
Beschreibung:S. 521 - 553

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