Quantitative Bestimmung von Fremdelemeneten und Verteilung derselben in Si- und GaAs-Halbleitermaterialien mittels nuklearer Analysemethoden:
Saved in:
| Main Author: | |
|---|---|
| Format: | Thesis Book |
| Language: | German |
| Published: |
1989
|
| Subjects: | |
| Physical Description: | 90 S. |
Staff View
MARC
| LEADER | 00000nam a2200000 c 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | BV009224388 | ||
| 003 | DE-604 | ||
| 005 | 00000000000000.0 | ||
| 007 | t | ||
| 008 | 940313s1989 m||| 00||| ger d | ||
| 035 | |a (OCoLC)256014214 | ||
| 035 | |a (DE-599)BVBBV009224388 | ||
| 040 | |a DE-604 |b ger |e rakddb | ||
| 041 | 0 | |a ger | |
| 049 | |a DE-29T |a DE-188 | ||
| 100 | 1 | |a Krauskopf, Jörg |e Verfasser |4 aut | |
| 245 | 1 | 0 | |a Quantitative Bestimmung von Fremdelemeneten und Verteilung derselben in Si- und GaAs-Halbleitermaterialien mittels nuklearer Analysemethoden |c von Jörg Krauskopf |
| 264 | 1 | |c 1989 | |
| 300 | |a 90 S. | ||
| 336 | |b txt |2 rdacontent | ||
| 337 | |b n |2 rdamedia | ||
| 338 | |b nc |2 rdacarrier | ||
| 502 | |a Frankfurt, Main, Univ., Diss., 1990 | ||
| 650 | 7 | |a Aktivierungsanalyse |2 swd | |
| 650 | 7 | |a Dotant |2 swd | |
| 650 | 7 | |a Galliumarsenid |2 swd | |
| 650 | 7 | |a Halbleiter |2 swd | |
| 650 | 7 | |a Silicium |2 swd | |
| 655 | 7 | |0 (DE-588)4113937-9 |a Hochschulschrift |2 gnd-content | |
| 999 | |a oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-006133654 | ||
Record in the Search Index
| _version_ | 1804123667437715456 |
|---|---|
| any_adam_object | |
| author | Krauskopf, Jörg |
| author_facet | Krauskopf, Jörg |
| author_role | aut |
| author_sort | Krauskopf, Jörg |
| author_variant | j k jk |
| building | Verbundindex |
| bvnumber | BV009224388 |
| ctrlnum | (OCoLC)256014214 (DE-599)BVBBV009224388 |
| format | Thesis Book |
| fullrecord | <?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>01022nam a2200325 c 4500</leader><controlfield tag="001">BV009224388</controlfield><controlfield tag="003">DE-604</controlfield><controlfield tag="005">00000000000000.0</controlfield><controlfield tag="007">t</controlfield><controlfield tag="008">940313s1989 m||| 00||| ger d</controlfield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(OCoLC)256014214</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)BVBBV009224388</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-604</subfield><subfield code="b">ger</subfield><subfield code="e">rakddb</subfield></datafield><datafield tag="041" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">ger</subfield></datafield><datafield tag="049" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-29T</subfield><subfield code="a">DE-188</subfield></datafield><datafield tag="100" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Krauskopf, Jörg</subfield><subfield code="e">Verfasser</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Quantitative Bestimmung von Fremdelemeneten und Verteilung derselben in Si- und GaAs-Halbleitermaterialien mittels nuklearer Analysemethoden</subfield><subfield code="c">von Jörg Krauskopf</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="c">1989</subfield></datafield><datafield tag="300" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">90 S.</subfield></datafield><datafield tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">n</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">nc</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="502" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Frankfurt, Main, Univ., Diss., 1990</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1=" " ind2="7"><subfield code="a">Aktivierungsanalyse</subfield><subfield code="2">swd</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1=" " ind2="7"><subfield code="a">Dotant</subfield><subfield code="2">swd</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1=" " ind2="7"><subfield code="a">Galliumarsenid</subfield><subfield code="2">swd</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1=" " ind2="7"><subfield code="a">Halbleiter</subfield><subfield code="2">swd</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1=" " ind2="7"><subfield code="a">Silicium</subfield><subfield code="2">swd</subfield></datafield><datafield tag="655" ind1=" " ind2="7"><subfield code="0">(DE-588)4113937-9</subfield><subfield code="a">Hochschulschrift</subfield><subfield code="2">gnd-content</subfield></datafield><datafield tag="999" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-006133654</subfield></datafield></record></collection> |
| genre | (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content |
| genre_facet | Hochschulschrift |
| id | DE-604.BV009224388 |
| illustrated | Not Illustrated |
| indexdate | 2024-07-09T17:33:25Z |
| institution | BVB |
| language | German |
| oai_aleph_id | oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-006133654 |
| oclc_num | 256014214 |
| open_access_boolean | |
| owner | DE-29T DE-188 |
| owner_facet | DE-29T DE-188 |
| physical | 90 S. |
| publishDate | 1989 |
| publishDateSearch | 1989 |
| publishDateSort | 1989 |
| record_format | marc |
| spelling | Krauskopf, Jörg Verfasser aut Quantitative Bestimmung von Fremdelemeneten und Verteilung derselben in Si- und GaAs-Halbleitermaterialien mittels nuklearer Analysemethoden von Jörg Krauskopf 1989 90 S. txt rdacontent n rdamedia nc rdacarrier Frankfurt, Main, Univ., Diss., 1990 Aktivierungsanalyse swd Dotant swd Galliumarsenid swd Halbleiter swd Silicium swd (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content |
| spellingShingle | Krauskopf, Jörg Quantitative Bestimmung von Fremdelemeneten und Verteilung derselben in Si- und GaAs-Halbleitermaterialien mittels nuklearer Analysemethoden Aktivierungsanalyse swd Dotant swd Galliumarsenid swd Halbleiter swd Silicium swd |
| subject_GND | (DE-588)4113937-9 |
| title | Quantitative Bestimmung von Fremdelemeneten und Verteilung derselben in Si- und GaAs-Halbleitermaterialien mittels nuklearer Analysemethoden |
| title_auth | Quantitative Bestimmung von Fremdelemeneten und Verteilung derselben in Si- und GaAs-Halbleitermaterialien mittels nuklearer Analysemethoden |
| title_exact_search | Quantitative Bestimmung von Fremdelemeneten und Verteilung derselben in Si- und GaAs-Halbleitermaterialien mittels nuklearer Analysemethoden |
| title_full | Quantitative Bestimmung von Fremdelemeneten und Verteilung derselben in Si- und GaAs-Halbleitermaterialien mittels nuklearer Analysemethoden von Jörg Krauskopf |
| title_fullStr | Quantitative Bestimmung von Fremdelemeneten und Verteilung derselben in Si- und GaAs-Halbleitermaterialien mittels nuklearer Analysemethoden von Jörg Krauskopf |
| title_full_unstemmed | Quantitative Bestimmung von Fremdelemeneten und Verteilung derselben in Si- und GaAs-Halbleitermaterialien mittels nuklearer Analysemethoden von Jörg Krauskopf |
| title_short | Quantitative Bestimmung von Fremdelemeneten und Verteilung derselben in Si- und GaAs-Halbleitermaterialien mittels nuklearer Analysemethoden |
| title_sort | quantitative bestimmung von fremdelemeneten und verteilung derselben in si und gaas halbleitermaterialien mittels nuklearer analysemethoden |
| topic | Aktivierungsanalyse swd Dotant swd Galliumarsenid swd Halbleiter swd Silicium swd |
| topic_facet | Aktivierungsanalyse Dotant Galliumarsenid Halbleiter Silicium Hochschulschrift |
| work_keys_str_mv | AT krauskopfjorg quantitativebestimmungvonfremdelemenetenundverteilungderselbeninsiundgaashalbleitermaterialienmittelsnukleareranalysemethoden |