Quantitative Bestimmung von Fremdelemeneten und Verteilung derselben in Si- und GaAs-Halbleitermaterialien mittels nuklearer Analysemethoden:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Krauskopf, Jörg (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: 1989
Schlagworte:
Beschreibung:90 S.

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