Fault tolerance in VLSI:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: New York 1986
Schlagworte:
Beschreibung:In: Institute of Electrical and Electronics Engineers: Proceedings of the IEEE ; 74. 1986 5
Beschreibung:S. 627 - 745

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