Ein Modell zur Beschreibung des Isotopeneffektes tiefer Störstellen in Halbleitern am Beispiel CdS:Ni CdS:Ni2 plus:
Gespeichert in:
1. Verfasser: | |
---|---|
Format: | Mikrofilm Buch |
Sprache: | Undetermined |
Veröffentlicht: |
1985
|
Schlagworte: | |
Beschreibung: | Berlin, West, Techn. Univ., Diss. |
Beschreibung: | 97 S., 2 Mikrofiches 24x |
Internformat
MARC
LEADER | 00000nam a2200000 c 4500 | ||
---|---|---|---|
001 | BV009220522 | ||
003 | DE-604 | ||
005 | 00000000000000.0 | ||
007 | he|uuuuuuuuuu | ||
008 | 940313s1985 bm||| 00||| und d | ||
035 | |a (OCoLC)632490441 | ||
035 | |a (DE-599)BVBBV009220522 | ||
040 | |a DE-604 |b ger |e rakddb | ||
041 | |a und | ||
049 | |a DE-29T | ||
100 | 1 | |a Nestler, Bodo |e Verfasser |4 aut | |
245 | 1 | 0 | |a Ein Modell zur Beschreibung des Isotopeneffektes tiefer Störstellen in Halbleitern am Beispiel CdS:Ni CdS:Ni2 plus |
246 | 1 | 3 | |a Ein Modell zur Beschreibung des Isotopeneffektes tiefer Störstellen in Halbleitern am Beispiel CdS:Ni |
264 | 1 | |c 1985 | |
300 | |a 97 S., 2 Mikrofiches 24x | ||
336 | |b txt |2 rdacontent | ||
337 | |b h |2 rdamedia | ||
338 | |b he |2 rdacarrier | ||
500 | |a Berlin, West, Techn. Univ., Diss. | ||
650 | 0 | 7 | |a Störstelle |0 (DE-588)4193400-3 |2 gnd |9 rswk-swf |
650 | 0 | 7 | |a Halbleiter |0 (DE-588)4022993-2 |2 gnd |9 rswk-swf |
650 | 0 | 7 | |a Isotopieeffekt |0 (DE-588)4162585-7 |2 gnd |9 rswk-swf |
650 | 0 | 7 | |a Tiefe Störstelle |0 (DE-588)4185419-6 |2 gnd |9 rswk-swf |
655 | 7 | |0 (DE-588)4113937-9 |a Hochschulschrift |2 gnd-content | |
689 | 0 | 0 | |a Störstelle |0 (DE-588)4193400-3 |D s |
689 | 0 | 1 | |a Isotopieeffekt |0 (DE-588)4162585-7 |D s |
689 | 0 | |5 DE-604 | |
689 | 1 | 0 | |a Halbleiter |0 (DE-588)4022993-2 |D s |
689 | 1 | 1 | |a Tiefe Störstelle |0 (DE-588)4185419-6 |D s |
689 | 1 | |5 DE-604 | |
999 | |a oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-006130235 |
Datensatz im Suchindex
_version_ | 1804123663232925696 |
---|---|
any_adam_object | |
author | Nestler, Bodo |
author_facet | Nestler, Bodo |
author_role | aut |
author_sort | Nestler, Bodo |
author_variant | b n bn |
building | Verbundindex |
bvnumber | BV009220522 |
ctrlnum | (OCoLC)632490441 (DE-599)BVBBV009220522 |
format | Microfilm Book |
fullrecord | <?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>01468nam a2200397 c 4500</leader><controlfield tag="001">BV009220522</controlfield><controlfield tag="003">DE-604</controlfield><controlfield tag="005">00000000000000.0</controlfield><controlfield tag="007">he|uuuuuuuuuu</controlfield><controlfield tag="008">940313s1985 bm||| 00||| und d</controlfield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(OCoLC)632490441</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)BVBBV009220522</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-604</subfield><subfield code="b">ger</subfield><subfield code="e">rakddb</subfield></datafield><datafield tag="041" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">und</subfield></datafield><datafield tag="049" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-29T</subfield></datafield><datafield tag="100" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Nestler, Bodo</subfield><subfield code="e">Verfasser</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Ein Modell zur Beschreibung des Isotopeneffektes tiefer Störstellen in Halbleitern am Beispiel CdS:Ni CdS:Ni2 plus</subfield></datafield><datafield tag="246" ind1="1" ind2="3"><subfield code="a">Ein Modell zur Beschreibung des Isotopeneffektes tiefer Störstellen in Halbleitern am Beispiel CdS:Ni</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="c">1985</subfield></datafield><datafield tag="300" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">97 S., 2 Mikrofiches 24x</subfield></datafield><datafield tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">h</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">he</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="500" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Berlin, West, Techn. Univ., Diss.</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Störstelle</subfield><subfield code="0">(DE-588)4193400-3</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Halbleiter</subfield><subfield code="0">(DE-588)4022993-2</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Isotopieeffekt</subfield><subfield code="0">(DE-588)4162585-7</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Tiefe Störstelle</subfield><subfield code="0">(DE-588)4185419-6</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="655" ind1=" " ind2="7"><subfield code="0">(DE-588)4113937-9</subfield><subfield code="a">Hochschulschrift</subfield><subfield code="2">gnd-content</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="0"><subfield code="a">Störstelle</subfield><subfield code="0">(DE-588)4193400-3</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="1"><subfield code="a">Isotopieeffekt</subfield><subfield code="0">(DE-588)4162585-7</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Halbleiter</subfield><subfield code="0">(DE-588)4022993-2</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="1"><subfield code="a">Tiefe Störstelle</subfield><subfield code="0">(DE-588)4185419-6</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="999" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-006130235</subfield></datafield></record></collection> |
genre | (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content |
genre_facet | Hochschulschrift |
id | DE-604.BV009220522 |
illustrated | Not Illustrated |
indexdate | 2024-07-09T17:33:21Z |
institution | BVB |
language | Undetermined |
oai_aleph_id | oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-006130235 |
oclc_num | 632490441 |
open_access_boolean | |
owner | DE-29T |
owner_facet | DE-29T |
physical | 97 S., 2 Mikrofiches 24x |
publishDate | 1985 |
publishDateSearch | 1985 |
publishDateSort | 1985 |
record_format | marc |
spelling | Nestler, Bodo Verfasser aut Ein Modell zur Beschreibung des Isotopeneffektes tiefer Störstellen in Halbleitern am Beispiel CdS:Ni CdS:Ni2 plus Ein Modell zur Beschreibung des Isotopeneffektes tiefer Störstellen in Halbleitern am Beispiel CdS:Ni 1985 97 S., 2 Mikrofiches 24x txt rdacontent h rdamedia he rdacarrier Berlin, West, Techn. Univ., Diss. Störstelle (DE-588)4193400-3 gnd rswk-swf Halbleiter (DE-588)4022993-2 gnd rswk-swf Isotopieeffekt (DE-588)4162585-7 gnd rswk-swf Tiefe Störstelle (DE-588)4185419-6 gnd rswk-swf (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content Störstelle (DE-588)4193400-3 s Isotopieeffekt (DE-588)4162585-7 s DE-604 Halbleiter (DE-588)4022993-2 s Tiefe Störstelle (DE-588)4185419-6 s |
spellingShingle | Nestler, Bodo Ein Modell zur Beschreibung des Isotopeneffektes tiefer Störstellen in Halbleitern am Beispiel CdS:Ni CdS:Ni2 plus Störstelle (DE-588)4193400-3 gnd Halbleiter (DE-588)4022993-2 gnd Isotopieeffekt (DE-588)4162585-7 gnd Tiefe Störstelle (DE-588)4185419-6 gnd |
subject_GND | (DE-588)4193400-3 (DE-588)4022993-2 (DE-588)4162585-7 (DE-588)4185419-6 (DE-588)4113937-9 |
title | Ein Modell zur Beschreibung des Isotopeneffektes tiefer Störstellen in Halbleitern am Beispiel CdS:Ni CdS:Ni2 plus |
title_alt | Ein Modell zur Beschreibung des Isotopeneffektes tiefer Störstellen in Halbleitern am Beispiel CdS:Ni |
title_auth | Ein Modell zur Beschreibung des Isotopeneffektes tiefer Störstellen in Halbleitern am Beispiel CdS:Ni CdS:Ni2 plus |
title_exact_search | Ein Modell zur Beschreibung des Isotopeneffektes tiefer Störstellen in Halbleitern am Beispiel CdS:Ni CdS:Ni2 plus |
title_full | Ein Modell zur Beschreibung des Isotopeneffektes tiefer Störstellen in Halbleitern am Beispiel CdS:Ni CdS:Ni2 plus |
title_fullStr | Ein Modell zur Beschreibung des Isotopeneffektes tiefer Störstellen in Halbleitern am Beispiel CdS:Ni CdS:Ni2 plus |
title_full_unstemmed | Ein Modell zur Beschreibung des Isotopeneffektes tiefer Störstellen in Halbleitern am Beispiel CdS:Ni CdS:Ni2 plus |
title_short | Ein Modell zur Beschreibung des Isotopeneffektes tiefer Störstellen in Halbleitern am Beispiel CdS:Ni CdS:Ni2 plus |
title_sort | ein modell zur beschreibung des isotopeneffektes tiefer storstellen in halbleitern am beispiel cds ni cds ni2 plus |
topic | Störstelle (DE-588)4193400-3 gnd Halbleiter (DE-588)4022993-2 gnd Isotopieeffekt (DE-588)4162585-7 gnd Tiefe Störstelle (DE-588)4185419-6 gnd |
topic_facet | Störstelle Halbleiter Isotopieeffekt Tiefe Störstelle Hochschulschrift |
work_keys_str_mv | AT nestlerbodo einmodellzurbeschreibungdesisotopeneffektestieferstorstelleninhalbleiternambeispielcdsnicdsni2plus AT nestlerbodo einmodellzurbeschreibungdesisotopeneffektestieferstorstelleninhalbleiternambeispielcdsni |