Anleitung zur allgemeinen und Polarisations-Mikroskopie der Festkörper im Durchlicht: mit 1 Interferenzfarbenskala ... und 25 Tabellen im Text
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Inhalt
A. ALLGEMEINE GRUNDLAGEN
I. Theoretische Grundlagen................. 1
1. Einleitung..................... 1
2. Kristallographische Grundbegriffe............. 3
Anisotropie — Symmetrie — Zwillingsbildungen — Spaltbarkeit —
Die Miller sdien Indizes — Zonen
3. Geometrische und Wellenoptik.............. 20
Amplitude — Fortpflanzungsriditung — Wellenlänge — Liditbre-
diung — Farbe — Dispersion — Polarisation
4. Beugung und Interferenz................ 25
5. Abbildungstheorie.................. 33
II. Instrumentelle Grundlagen................ 37
1. Allgemeines.................... 37
1.1 Lichtbrediung und Reflexion — Totalreflexion des Prismas . . 37
1.2 Brechung an Kugelflächen (Linsen)........... 39
1.3 Geometrische Abbildung.............. 40
1.4 Abbildungsfehler (Aberrationen) der Linsen........ 42
Sphärische Aberration — Chromatische Längs-Aberration —
Astigmatismus schräger Bündel — Längsaberration — Chroma-
tische Vergrößerungsdifferenz — Deckglasaberration
2. Das zusammengesetzte Mikroskop............. 45
2.1 Das Objektiv-Okular-System............. 45
2.2 Der Abbildungsmaßstab (Die Vergrößerung)....... 46
2.3 Die numerische Apertur und ihre Messung........ 48
2.4 Das Auflösungsvermögen.............. 50
2.5 Die Objektive — Immersionsobjektive.......... 51
2.6 Die Okulare.................. 54
2.7 Die Lichtquelle.................. 57
2.8 Der Kondensor................. 60
2.9 Das Stativ................... 61
2.10 Der Strahlengang im zusammengesetzten Mikroskop — Primäre
und sekundäre Abbildung.............. 63
X Inhalt
III. Zusätzliche Einrichtungen................ 66
1. Die Refraktometer.................. 66
2. Dunkelfeldbeleuchtung................. 73
3. Phasenkontrastmikroskopie............... 76
4. Interferenz-Verfahren................. 79
5. Heiztisch..................... 86
6. Anfärbe-Verfahren.................. 88
IV. Herstellung optischer Präparate.............. 90
1. Dünnschliffe.................... 90
2. Streupräparate................... 93
B. BEOBACHTUNGEN OHNE POLARISIERTES LICHT
1. Voraussetzungen................... 96
1.1 Zentrieren der Objektive.............. 96
1.2 Anwendung der Objektführer............. 98
2. Festlegung des Allgemeinhabitus............. 99
3. Festlegung der Rundheit................ 99
4. Längenmessung................... 100
5. Dickenmessung................... 103
6. Winkelmessung in der Bildebene............. 106
7. Zählmethoden ................... 108
7.1 in Streupräparaten................ 108
7.2 in Dünnschliffen................. 109
7.3 Glagolew-Methode................ 110
8. Bestimmung der Lichtbrechung.............. 112
8.1 qualitativ................... 112
8.1.1 Das Chagrin................ 112
8.1.2 Das Relief................. 113
8.1.3 Die Becke sche Lichtlinie............ 114
8.1.4 Das Schroeder van der Kolk sche Kriterium..... 116
8.2 quantitativ mittels Immersionsmethoden......... 118
8.2.1 Die einfache Mischmethode........... 118
8.2.2 Die Verdunstungsmethode........... 121
8.2.3 Die t-Variationsmethode............ 122
8.2.4 Die K-Variationsmethode............ 123
8.2.5 Die X-t-Variationsmethode........... 125
9. Festlegung der Farbe................. 126
10. Sonderfall: Optisch isotrope Kristalle............ 128
C. BEOBACHTUNGEN IM LINEAR POLARISIERTEN LICHT
Allgemeines ..................... 130
I.Beobachtungen im mikroskopischen (orthoskopisdien) Strahlengang . . 134
1. Objektebene senkrecht zur Beobachtungsrichtung........ 134
1.1 nur mit einem einzigen Polarisator........... 134
1.1.1 Licht- und Doppelbrechung........... 134
1.1.2 Pleochroismus............... 136
Inhalt XI
1.2 bei senkrecht gekreuzten Polarisatoren.......... 137
1.2.1 Auslöschung................ 137
Gerade — schiefe — symmetrische — undulöse
1.2.2 Fadenkreuzkorrektur............. 140
1.2.3 Die Indikatrix............... 141
1.2.4 Konstruktion der Auslöschungsschiefe....... 146
1.2.5 Dispersion der Auslöschung........... 149
1.2.6 Interferenzfarben.............. 150
1.2.7 Das Diagramm von Michel-Lévy......... 153
1.2.8 Abnormale Interferenzfarben.......... 154
Obernormale — unternormale — anomale
1.2.9 Elliptisch und zirkulär polarisiertes Licht...... 157
1.2.10 Messung von Gangunterschied und Doppelbrechung . . . 160
Gipsblätteben — Glimmerblättchen — Quarzkeil — Ver-
änderliche Kompensatoren — Der elliptische Kompensator
1.2.11 Formdoppelbrechung............. 176
2. Universaldrehtischmethoden............... 177
2.1 Historisches................... 177
2.2 Instrumentées.................. 178
2.2.1 Die Segmente................ 184
2.2.2 Die Versetzung............... 188
2.2.3 Die Bedeutung der Doppelbrechung........ 191
2.2.4 Vorbereitung der Apparatur zur Messung...... 192
2.2.5 Eintragung von Meßergebnissen in ein Stereogramm . . 195
2.3 Methodik................... 196
2.3.1 Vorteile der U-Tisch-Methodik.......... 196
2.3.2 Unterscheidung ¦— optisch isotrop — optisch einachsig —
optisch zweiachsig.............. 198
2.3.3 Bestimmung des optischen Charakters........ 200
2.3.4 Orientierung der Indikatrix........... 201
2.3.5 Die charakteristische Funktion der Auslöschung
nach M. Berek............... 205
2.3.6 Die Bestimmung der Auslöschungsschiefe auf der (010)-
Fläche bei monoklinen Hornblenden und Augiten ... 212
II. Beobachtungen im telezentrischen (konoskopischen) Strahlengang . . . 214
1. Objektebene senkrecht zur Beobachtungsrichtung........ 214
1.1 Strahlengang.................. 214
1.2 Interferenzfiguren................. 215
1.3 Optisch einachsige Kristalle............. 222
1.3.1 Häufigkeit der drei charakteristischen Lagen..... 222
1.3.2 Lagen senkrecht zur optischen Achse........ 224
1.3.3 Lagen parallel zur optischen Achse........ 227
1.3.4 Lagen schief zur optischen Achse......... 230
1.3.5 Bestimmung des optischen Charakters....... 232
1.3.6 Messung der Achsenneigung........... 237
1.3.7 Bestimmung der maximalen Doppelbrechung..... 239
1.3.8 Dispersion................ 242
1.3.9 Zirkularpolarisation ............. 244
1.3.10 Das isotrope Kreuz.............. 245
XII Inhalt
1.4 Optisdi zweiachsige Kristalle............. 246
1.4.1 Häufigkeit der acht charakteristischen Schnittlagen . . . 246
1.4.2 Die Skiodromen zweiachsiger Kristalle....... 248
1.4.3 Lagen senkrecht zur spitzen Bisektrix....... 250
1.4.4 Lagen senkrecht zur stumpfen Bisektrix....... 252
1.4.5 Lagen senkrecht zur optischen Normale....... 252
1.4.6 Übersicht über die fünf Typen der Isogyrenkreuze . . . 255
1.4.7 Lagen senkrecht zu einer der beiden optischen Achsen . . 256
1.4.8 Lagen mit Achsen- und Mittellinienaustritt...... 257
1.4.9 Lagen senkrecht zu einer optischen Symmetrieebene
allgemein................. 257
1.4.10 Lagen zwischen erster Mittellinie und optischer Normale . 258
1.4.11 Lagen zwischen erster und zweiter Mittellinie..... 258
1.4.12 Lagen zwischen optischer Normale und
zweiter Mittellinie.............. 259
1.4.13 Allgemein schiefe Lagen............ 259
1.4.14 Übersicht der Isogyrenbalken in Lagen schief zu den
Hauptbivektoren der Indikatrix bei einachsigen und zwei-
achsigen Kristallen.............. 262
1.5 Bestimmung des optischen Charakters.......... 262
1.6 Winkelmessung nach Mallard allgemein......... 267
1.7 Achsenwinkelmessung allgemein............ 273
1.7.1 Achsenwinkelbestimmung nach der Mallard schen Methode 274
1.7.2 Achsenwinkelbestimmung aus der Hyperbelkrümmung . . 280
1.8 Dispersion in Interferenzfiguren zweiachsiger Kristalle .... 282
1.8.1 Dispersion der optischen Achsen......... 282
1.8.2 Dispersion und Kristallsystem.......... 283
a) Im (ortho-) rhombischen System — b) Im monoklinen
System — c) Im triklinen System
1.8.3 Die Graustellung.............. 286
2. Universaldrehtischmethoden (Strephoteleskop)......... 289
2.1 Grundsätzliches ................. 289
2.2 Instrumentales.................. 291
2.3 Grundsätzliches zur Einstellung optischer Symmetrie-Richtungen 293
2.4 Vorgehen bei einachsigen Kristallen.......... 294
2.5 Vorgehen bei zweiachsigen Kristallen.......... 295
2.6 Messung des Winkels der optischen Achsen........ 297
2.7 Messung des Winkels an., bei monoklinen Hornblenden
und Augiten.................. 297
ANHANG
1. Allgemeine Bemerkungen zur Mikroskopierarbeit....... 299
2. Zusammenhang zwischen Optik und Kristallsymmetrie...... 300
3. Arbeitsgang.................... 303
4. Die stereographische Projektion............. 305
5. Die Lambert sche Projektion............... 310
6. Fehlerrechnung................... 312
Schrifttum...................... 314
Sachverzeichnis.................... 321
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