Verfügbarkeit: Korrelation zwischen Nahordnung, elektronischer Struktur und elektrischen Transporteigenschaften gesputterter, amorpher Filme der Legierungsreihe NbxSix Nb(1-x)Six

Korrelation zwischen Nahordnung, elektronischer Struktur und elektrischen Transporteigenschaften gesputterter, amorpher Filme der Legierungsreihe NbxSix Nb(1-x)Six:

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Söldner, Karin (VerfasserIn)
Format:	Buch
Sprache:	Undetermined
Veröffentlicht:	1987
Schlagworte:	Elektronenstruktur Siliciumlegierung Nioblegierung Silicium Elektrische Leitfähigkeit Niob Nahordnung Amorpher Zustand Dünne Schicht Elektronenspektroskopie Hochschulschrift
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