Dreiländertagung Elektronenmikroskopie Konstanz. (1985). Abstracts: 22. Tagung d. Dt. Ges. für Elektronenmikroskopie e.V. (DGE) einschl. 18. Kolloquium d. Arbeitskreises für Elektronenmikroskopische Direaktabbildung und Analyse von Oberflächen (EDO), Tagung d. Schweiz. Ges. für Optik u. Elektronenmikroskopie (SGOEM/SSOME), Tagung d. Österr. Ges. für Elektronenmikroskopie (ÖGE), Konstanz, 15. - 21. Sept. 1985. Wiss. Verl.-Ges.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Dreiländertagung Elektronenmikroskopie Konstanz. Abstracts: 22. Tagung D. Dt. Ges. Für Elektronenmikroskopie E.V. (DGE) Einschl. 18. Kolloquium D. Arbeitskreises Für Elektronenmikroskopische Direaktabbildung Und Analyse Von Oberflächen (EDO), Tagung D. Schweiz. Ges. Für Optik U. Elektronenmikroskopie (SGOEM/SSOME), Tagung D. Österr. Ges. Für Elektronenmikroskopie (ÖGE), Konstanz, 15. - 21. Sept. 1985. Stuttgart: Wiss. Verl.-Ges, 1985.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Dreiländertagung Elektronenmikroskopie Konstanz. Abstracts: 22. Tagung D. Dt. Ges. Für Elektronenmikroskopie E.V. (DGE) Einschl. 18. Kolloquium D. Arbeitskreises Für Elektronenmikroskopische Direaktabbildung Und Analyse Von Oberflächen (EDO), Tagung D. Schweiz. Ges. Für Optik U. Elektronenmikroskopie (SGOEM/SSOME), Tagung D. Österr. Ges. Für Elektronenmikroskopie (ÖGE), Konstanz, 15. - 21. Sept. 1985. Wiss. Verl.-Ges, 1985.