Abstracts: 22. Tagung d. Dt. Ges. für Elektronenmikroskopie e.V. (DGE) einschl. 18. Kolloquium d. Arbeitskreises für Elektronenmikroskopische Direaktabbildung und Analyse von Oberflächen (EDO), Tagung d. Schweiz. Ges. für Optik u. Elektronenmikroskopie (SGOEM/SSOME), Tagung d. Österr. Ges. für Elektronenmikroskopie (ÖGE), Konstanz, 15. - 21. Sept. 1985
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Stuttgart
Wiss. Verl.-Ges.
1985
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