Praktischer Einsatz des Elektronenstrahl-Testverfahrens in LSI- und VLSI-Bausteinen:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Görlich, Siegfried (VerfasserIn), Kubalek, Erich (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: Eggenstein-Leopoldshafen Fachinformationszentrum Energie, Physik, Mathematik 1984
Schriftenreihe:Deutschland <Bundesrepublik> / Bundesminister für Forschung und Technologie: Forschungsbericht T / 84,1 - 84,185
Schlagworte:
Beschreibung:195 S.

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