Olzhausen, H. (1983). Messungen an epitaktischen SiC-Dioden unter Berücksichtigung von Doppelepitaxieschichten.
Chicago Style (17th ed.) CitationOlzhausen, Heinz-Jürgen. Messungen an Epitaktischen SiC-Dioden Unter Berücksichtigung Von Doppelepitaxieschichten. 1983.
MLA (9th ed.) CitationOlzhausen, Heinz-Jürgen. Messungen an Epitaktischen SiC-Dioden Unter Berücksichtigung Von Doppelepitaxieschichten. 1983.
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