Messungen an epitaktischen SiC-Dioden unter Berücksichtigung von Doppelepitaxieschichten:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Olzhausen, Heinz-Jürgen (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:Undetermined
Veröffentlicht: 1983
Schlagworte:
Beschreibung:Hannover, Univ., Diss.
Beschreibung:V, 115 S. zahlr. Ill., graph. Darst.

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