Franz, G., & Kolbesen, B. (1982). Kristallfehler in integrierten Schaltkreisen aus Silizium, insbesondere in Hinblick auf Größtintegration (VLSI). Fachinformationszentrum.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Franz, Günther, und Bernd Kolbesen. Kristallfehler in Integrierten Schaltkreisen Aus Silizium, Insbesondere in Hinblick Auf Größtintegration (VLSI). Karlsruhe: Fachinformationszentrum, 1982.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Franz, Günther, und Bernd Kolbesen. Kristallfehler in Integrierten Schaltkreisen Aus Silizium, Insbesondere in Hinblick Auf Größtintegration (VLSI). Fachinformationszentrum, 1982.
Achtung: Diese Zitate sind unter Umständen nicht zu 100% korrekt.