Kristallfehler in integrierten Schaltkreisen aus Silizium, insbesondere in Hinblick auf Größtintegration (VLSI):
Gespeichert in:
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| Format: | Buch |
| Sprache: | German |
| Veröffentlicht: |
Karlsruhe
Fachinformationszentrum
1982
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| Schriftenreihe: | Deutschland <Bundesrepublik> / Bundesminister für Forschung und Technologie: [Forschungsbericht / T]
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