Surface layer analysis by medium energy ion scattering:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Turkenburg, Wilhelmus C. (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: 1976
Schlagworte:
Beschreibung:139 S. zahlr. graph. Darst.

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