Hillen, M. W. (1981). Charge trapping near the Si SiO2 interface in semiconductor devices.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Hillen, Michiel W. Charge Trapping Near the Si SiO2 Interface in Semiconductor Devices. 1981.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Hillen, Michiel W. Charge Trapping Near the Si SiO2 Interface in Semiconductor Devices. 1981.
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