Verfügbarkeit: Hochauflösende Elektronenspektroskopie an Si-, Ge- und GaAs-Oberflächen

Hochauflösende Elektronenspektroskopie an Si-, Ge- und GaAs-Oberflächen:

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Froitzheim, Hermann 1942- (VerfasserIn)
Format:	Buch
Sprache:	Undetermined
Veröffentlicht:	Jülich 1975
Schriftenreihe:	Kernforschungsanlage <Jülich>: Berichte der ... 1179
Schlagworte:	Oberfläche Elektronenspektroskopie Galliumarsenid Silicium Hochauflösendes Verfahren Germanium Halbleiter Hochschulschrift
Beschreibung:	Zugl.: Aachen, Diss.
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