Kristallfehler in hochintegrierten Schaltkreisen aus Siliziumnitrid:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Kolbesen, Bernd O. (VerfasserIn), Mayer, Kurt R. (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: Eggenstein-Leopoldshafen Fachinformationszentrum Energie, Physik, Mathematik 1979
Schriftenreihe:Deutschland <Bundesrepublik> / Bundesminister für Forschung und Technologie: Forschungsbericht T / 79,1 - 79,156
Schlagworte:
Beschreibung:143 S. 76 Ill. u. graph. Darst.

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