Messung des Al-Gehaltes in dünnen epitaktischen Ga1-xAlxAs-Schichten mit Hilfe der Ellipsometrie:
Gespeichert in:
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| Veröffentlicht: |
Darmstadt
1978
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| Schriftenreihe: | Fernmeldetechnisches Zentralamt <Darmstadt> / Forschungsinstitut: Technischer Bericht.
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