Whelan, M. V. (1970). Electrical behaviour of defects at a thermally oxidized silicon surface. Philips.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Whelan, Maurice V. Electrical Behaviour of Defects at a Thermally Oxidized Silicon Surface. Eindhoven: Philips, 1970.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Whelan, Maurice V. Electrical Behaviour of Defects at a Thermally Oxidized Silicon Surface. Philips, 1970.
Achtung: Diese Zitate sind unter Umständen nicht zu 100% korrekt.