Electrical behaviour of defects at a thermally oxidized silicon surface:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Whelan, Maurice V. (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Eindhoven Philips 1970
Schriftenreihe:Philips' Gloeilampenfabrieken <Eindhoven>: Philips research reports / Supplements 1970,6
Schlagworte:
Beschreibung:Zugl.: Eindhoven, Techn. Univ., Diss.
Beschreibung:93 S. zahlr. graph. Darst.

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