Hochtemperatur-Röntgentopographie an Silizium und Galliumarsenid:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Krüger, Hans-Eckhard (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: 1976
Schlagworte:
Beschreibung:Aachen, Diss.
Beschreibung:165 S. Ill., graph. Darst.

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