Investigation of 27Al and 28Si level schemes:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Maas, Jan W. (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: 1976
Schlagworte:
Beschreibung:89 S. graph. Darst.

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