Tiefendifferentielle Analyse von Festkörpern mit Hilfe der Sekundärionen-Massenspektrometrie:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Maul, Johann L. (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:Undetermined
Veröffentlicht: 1974
Schlagworte:
Beschreibung:München, Techn. Univ., Fak. für Maschinenwesen u. Elektrotechnik, Diss., 1974
Beschreibung:72 S.

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