Expertensystem für die Testgenierung und Fehlerdiagnose in mikroelektronischen Schaltungen und Systemen:
Gespeichert in:
| Hauptverfasser: | , , |
|---|---|
| Format: | Buch |
| Sprache: | Undetermined |
| Veröffentlicht: |
s.l.
1987
|
| Schriftenreihe: | Forschungsverbund Anwendungen der KI in NRW: KI NRW
87,4 |
| Beschreibung: | 3 Bl. |
Internformat
MARC
| LEADER | 00000nam a2200000 cb4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | BV009033838 | ||
| 003 | DE-604 | ||
| 005 | 00000000000000.0 | ||
| 007 | t | ||
| 008 | 940227s1987 |||| 00||| und d | ||
| 035 | |a (OCoLC)634246529 | ||
| 035 | |a (DE-599)BVBBV009033838 | ||
| 040 | |a DE-604 |b ger |e rakddb | ||
| 041 | |a und | ||
| 100 | 1 | |a Gouders, Nikolaus |e Verfasser |4 aut | |
| 245 | 1 | 0 | |a Expertensystem für die Testgenierung und Fehlerdiagnose in mikroelektronischen Schaltungen und Systemen |c N. Gouders, R. Kaibel, J. Prang |
| 264 | 1 | |a s.l. |c 1987 | |
| 300 | |a 3 Bl. | ||
| 336 | |b txt |2 rdacontent | ||
| 337 | |b n |2 rdamedia | ||
| 338 | |b nc |2 rdacarrier | ||
| 490 | 1 | |a Forschungsverbund Anwendungen der KI in NRW: KI NRW |v 87,4 | |
| 700 | 1 | |a Kaibel, Reinhard |e Verfasser |4 aut | |
| 700 | 1 | |a Prang, J. |e Verfasser |4 aut | |
| 830 | 0 | |a Forschungsverbund Anwendungen der KI in NRW: KI NRW |v 87,4 |w (DE-604)BV008906635 |9 87,4 | |
| 999 | |a oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-005976626 | ||
Datensatz im Suchindex
| _version_ | 1804123387308539904 |
|---|---|
| any_adam_object | |
| author | Gouders, Nikolaus Kaibel, Reinhard Prang, J. |
| author_facet | Gouders, Nikolaus Kaibel, Reinhard Prang, J. |
| author_role | aut aut aut |
| author_sort | Gouders, Nikolaus |
| author_variant | n g ng r k rk j p jp |
| building | Verbundindex |
| bvnumber | BV009033838 |
| ctrlnum | (OCoLC)634246529 (DE-599)BVBBV009033838 |
| format | Book |
| fullrecord | <?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>00956nam a2200277 cb4500</leader><controlfield tag="001">BV009033838</controlfield><controlfield tag="003">DE-604</controlfield><controlfield tag="005">00000000000000.0</controlfield><controlfield tag="007">t</controlfield><controlfield tag="008">940227s1987 |||| 00||| und d</controlfield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(OCoLC)634246529</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)BVBBV009033838</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-604</subfield><subfield code="b">ger</subfield><subfield code="e">rakddb</subfield></datafield><datafield tag="041" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">und</subfield></datafield><datafield tag="100" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Gouders, Nikolaus</subfield><subfield code="e">Verfasser</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Expertensystem für die Testgenierung und Fehlerdiagnose in mikroelektronischen Schaltungen und Systemen</subfield><subfield code="c">N. Gouders, R. Kaibel, J. Prang</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="a">s.l.</subfield><subfield code="c">1987</subfield></datafield><datafield tag="300" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">3 Bl.</subfield></datafield><datafield tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">n</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">nc</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="490" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Forschungsverbund Anwendungen der KI in NRW: KI NRW</subfield><subfield code="v">87,4</subfield></datafield><datafield tag="700" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Kaibel, Reinhard</subfield><subfield code="e">Verfasser</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="700" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Prang, J.</subfield><subfield code="e">Verfasser</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="830" ind1=" " ind2="0"><subfield code="a">Forschungsverbund Anwendungen der KI in NRW: KI NRW</subfield><subfield code="v">87,4</subfield><subfield code="w">(DE-604)BV008906635</subfield><subfield code="9">87,4</subfield></datafield><datafield tag="999" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-005976626</subfield></datafield></record></collection> |
| id | DE-604.BV009033838 |
| illustrated | Not Illustrated |
| indexdate | 2024-07-09T17:28:58Z |
| institution | BVB |
| language | Undetermined |
| oai_aleph_id | oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-005976626 |
| oclc_num | 634246529 |
| open_access_boolean | |
| physical | 3 Bl. |
| publishDate | 1987 |
| publishDateSearch | 1987 |
| publishDateSort | 1987 |
| record_format | marc |
| series | Forschungsverbund Anwendungen der KI in NRW: KI NRW |
| series2 | Forschungsverbund Anwendungen der KI in NRW: KI NRW |
| spelling | Gouders, Nikolaus Verfasser aut Expertensystem für die Testgenierung und Fehlerdiagnose in mikroelektronischen Schaltungen und Systemen N. Gouders, R. Kaibel, J. Prang s.l. 1987 3 Bl. txt rdacontent n rdamedia nc rdacarrier Forschungsverbund Anwendungen der KI in NRW: KI NRW 87,4 Kaibel, Reinhard Verfasser aut Prang, J. Verfasser aut Forschungsverbund Anwendungen der KI in NRW: KI NRW 87,4 (DE-604)BV008906635 87,4 |
| spellingShingle | Gouders, Nikolaus Kaibel, Reinhard Prang, J. Expertensystem für die Testgenierung und Fehlerdiagnose in mikroelektronischen Schaltungen und Systemen Forschungsverbund Anwendungen der KI in NRW: KI NRW |
| title | Expertensystem für die Testgenierung und Fehlerdiagnose in mikroelektronischen Schaltungen und Systemen |
| title_auth | Expertensystem für die Testgenierung und Fehlerdiagnose in mikroelektronischen Schaltungen und Systemen |
| title_exact_search | Expertensystem für die Testgenierung und Fehlerdiagnose in mikroelektronischen Schaltungen und Systemen |
| title_full | Expertensystem für die Testgenierung und Fehlerdiagnose in mikroelektronischen Schaltungen und Systemen N. Gouders, R. Kaibel, J. Prang |
| title_fullStr | Expertensystem für die Testgenierung und Fehlerdiagnose in mikroelektronischen Schaltungen und Systemen N. Gouders, R. Kaibel, J. Prang |
| title_full_unstemmed | Expertensystem für die Testgenierung und Fehlerdiagnose in mikroelektronischen Schaltungen und Systemen N. Gouders, R. Kaibel, J. Prang |
| title_short | Expertensystem für die Testgenierung und Fehlerdiagnose in mikroelektronischen Schaltungen und Systemen |
| title_sort | expertensystem fur die testgenierung und fehlerdiagnose in mikroelektronischen schaltungen und systemen |
| volume_link | (DE-604)BV008906635 |
| work_keys_str_mv | AT goudersnikolaus expertensystemfurdietestgenierungundfehlerdiagnoseinmikroelektronischenschaltungenundsystemen AT kaibelreinhard expertensystemfurdietestgenierungundfehlerdiagnoseinmikroelektronischenschaltungenundsystemen AT prangj expertensystemfurdietestgenierungundfehlerdiagnoseinmikroelektronischenschaltungenundsystemen |