Schneider, C. (1993). Entwicklung eines in-situ-Meß- und Regelsystems für Halbleiterfertigungsprozesse am Beispiel der thermischen Oxidation von Silizium. Shaker.
Chicago Style (17th ed.) CitationSchneider, Claus. Entwicklung Eines In-situ-Meß- Und Regelsystems Für Halbleiterfertigungsprozesse Am Beispiel Der Thermischen Oxidation Von Silizium. Aachen: Shaker, 1993.
MLA (9th ed.) CitationSchneider, Claus. Entwicklung Eines In-situ-Meß- Und Regelsystems Für Halbleiterfertigungsprozesse Am Beispiel Der Thermischen Oxidation Von Silizium. Shaker, 1993.
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