Untersuchung und Charakterisierung von ein- und zweidimensionalen Implantationsprofilen in einkristallinem Silicium:
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Bibliographic Details
Main Author: Gong, Li (Author)
Format: Book
Language:German
Published: 1993
Subjects:
Online Access:Inhaltsverzeichnis
Item Description:Erlangen-Nürnberg, Univ., Diss.
Physical Description:100 S. Ill., zahlr. graph. Darst.

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