Gong, L. (1993). Untersuchung und Charakterisierung von ein- und zweidimensionalen Implantationsprofilen in einkristallinem Silicium.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Gong, Li. Untersuchung Und Charakterisierung Von Ein- Und Zweidimensionalen Implantationsprofilen in Einkristallinem Silicium. 1993.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Gong, Li. Untersuchung Und Charakterisierung Von Ein- Und Zweidimensionalen Implantationsprofilen in Einkristallinem Silicium. 1993.
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