Design and +& test of ASICs: technical digest of the IFIP Workshop on Design & Test of ASICs, June 11 - 12, 1990, Hiroshima Grand Hotel, Hiroshima, Japan
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Format: Buch
Sprache:Undetermined
Veröffentlicht: Hiroshima 1990
Ausgabe:Participants ed.
Schlagworte:
Beschreibung:VII, 110 S. graph. Darst.

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