Special issue on the 1988 International Test Conference:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: International Test Conference Washington, DC (VerfasserIn)
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:Undetermined
Veröffentlicht: New York, NY 1990
Schlagworte:
Beschreibung:In: Institute of Electrical and Electronics Engineers: IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems ; 9 (1990) 6
Beschreibung:S. 565 - 674

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