Partitionierung und Analyse statischer, digitaler CMOS-Schaltungen auf der Schalterebene zur Vorbereitung einer Mixed-Level-Testgenerierung:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Hübner, Uwe (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: 1993
Schlagworte:
Beschreibung:Paderborn, Univ., Diss., 1993
Beschreibung:167 S. graph. Darst.

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