Hochaufgelöste Röntgenbeugung zur Charakterisierung gestörter Heterostrukturen auf der Basis von II-VI-Halbleitermaterialien:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Regnet, Markus (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:Undetermined
Veröffentlicht: 1993
Schlagworte:
Beschreibung:Würzburg, Univ., Diss., 1993
Beschreibung:IV, 143 S. Ill., graph. Darst.

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