In-situ-Bestimmung der elektronischen Oberflächen- und Volumendefektdichte von amorphem Silizium (a-Si: H) und verwandten Legierungen:
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Bibliographic Details
Main Author: Siebke, Frank (Author)
Format: Book
Language:German
Published: 1992
Subjects:
Item Description:Aachen, Techn. Hochsch., Diss., 1992. - Auch als: Berichte des Forschungszentrums Jülich, 2643.
Physical Description:112 S. Ill., graph. Darst.

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