Untersuchung vergrabener Au-Si-Grenzflächen mittels Ballistischer-Elektronen-Emissions-Mikroskopie (BEEM):
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Kreupl, Franz (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:Undetermined
Veröffentlicht: 1993
Schlagworte:
Beschreibung:Regensburg, Univ., Diplomarbeit, 1993
Beschreibung:100 Bl. Ill., graph. Darst.

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