Ballistische-Elektronen-Emissions-Mikroskopie (BEEM) an vergrabenen Pt, Si-Grenzflächen:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Menzel, Reinhard (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:Undetermined
Veröffentlicht: 1993
Schlagworte:
Beschreibung:Regensburg, Univ., Diplomarb., 1993
Beschreibung:83 Bl. Ill., zahlr. graph. Darst.

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