Abstracts: Tagung der Schweizerischen Gesellschaft für Optik und Elektronenmikroskopie (SGOEM/SSOME) ; Tagung der Österreichischen Gesellschaft für Elektronenmikroskopie (ÖGEM) ; 26. Tagung der Deutschen Gesellschaft für elektronenmikroskopie e. V. (DGE)..., sowie 26. Kolloquium des Arbeitskreises für elektronenmikroskopische Direktabbildung und Analyse von Oberflächen (EDO) ; Zürich, 5. bis 11. September 1993
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