Abstracts: Tagung der Schweizerischen Gesellschaft für Optik und Elektronenmikroskopie (SGOEM/SSOME) ; Tagung der Österreichischen Gesellschaft für Elektronenmikroskopie (ÖGEM) ; 26. Tagung der Deutschen Gesellschaft für elektronenmikroskopie e. V. (DGE)..., sowie 26. Kolloquium des Arbeitskreises für elektronenmikroskopische Direktabbildung und Analyse von Oberflächen (EDO) ; Zürich, 5. bis 11. September 1993
Gespeichert in:
| Körperschaft: | |
|---|---|
| Format: | Tagungsbericht Buch |
| Sprache: | German |
| Veröffentlicht: |
Stuttgart
Wiss. Verl.-Ges.
1993
|
| Schriftenreihe: | Optik
Supplement ; 5 European journal of cell biology Supplement ; 39 |
| Schlagworte: | |
| Beschreibung: | 144 S. |
Internformat
MARC
| LEADER | 00000nam a2200000 cb4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | BV008206032 | ||
| 003 | DE-604 | ||
| 005 | 20240306 | ||
| 007 | t | ||
| 008 | 930909s1993 |||| 10||| ger d | ||
| 035 | |a (OCoLC)165093724 | ||
| 035 | |a (DE-599)BVBBV008206032 | ||
| 040 | |a DE-604 |b ger |e rakddb | ||
| 041 | 0 | |a ger | |
| 049 | |a DE-703 |a DE-12 |a DE-20 |a DE-29T |a DE-706 |a DE-210 | ||
| 111 | 2 | |a Dreiländertagung Elektronenmikroskopie |d 1993 |c Zürich |j Verfasser |0 (DE-588)5092064-9 |4 aut | |
| 245 | 1 | 0 | |a Abstracts |b Tagung der Schweizerischen Gesellschaft für Optik und Elektronenmikroskopie (SGOEM/SSOME) ; Tagung der Österreichischen Gesellschaft für Elektronenmikroskopie (ÖGEM) ; 26. Tagung der Deutschen Gesellschaft für elektronenmikroskopie e. V. (DGE)..., sowie 26. Kolloquium des Arbeitskreises für elektronenmikroskopische Direktabbildung und Analyse von Oberflächen (EDO) ; Zürich, 5. bis 11. September 1993 |c Dreiländertagung Elektronenmikroskopie |
| 264 | 1 | |a Stuttgart |b Wiss. Verl.-Ges. |c 1993 | |
| 300 | |a 144 S. | ||
| 336 | |b txt |2 rdacontent | ||
| 337 | |b n |2 rdamedia | ||
| 338 | |b nc |2 rdacarrier | ||
| 490 | 1 | |a Optik : Supplement |v 5 | |
| 490 | 1 | |a European journal of cell biology : Supplement |v 39 | |
| 650 | 0 | 7 | |a Elektronenmikroskopie |0 (DE-588)4014327-2 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 655 | 7 | |0 (DE-588)1071861417 |a Konferenzschrift |y 1993 |z Zürich |2 gnd-content | |
| 689 | 0 | 0 | |a Elektronenmikroskopie |0 (DE-588)4014327-2 |D s |
| 689 | 0 | |5 DE-604 | |
| 710 | 2 | |a Schweizerische Gesellschaft für Optik und Elektronenmikroskopie |e Sonstige |0 (DE-588)3002608-8 |4 oth | |
| 710 | 2 | |a Österreichische Gesellschaft für Elektronenmikroskopie |e Sonstige |0 (DE-588)1029813-7 |4 oth | |
| 710 | 2 | |a Deutsche Gesellschaft für Elektronenmikroskopie |e Sonstige |0 (DE-588)2008211-3 |4 oth | |
| 710 | 2 | |a Deutsche Gesellschaft für Elektronenmikroskopie |b Arbeitskreis für Elektronenmikroskopische Direktabbildung und Analyse von Oberflächen |e Sonstige |0 (DE-588)512545-5 |4 oth | |
| 830 | 0 | |a Optik |v Supplement ; 5 |w (DE-604)BV005628654 |9 5 | |
| 830 | 0 | |a European journal of cell biology |v Supplement ; 39 |w (DE-604)BV005628038 |9 39 | |
| 999 | |a oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-005415341 | ||
Datensatz im Suchindex
| _version_ | 1804122590716887040 |
|---|---|
| any_adam_object | |
| author_corporate | Dreiländertagung Elektronenmikroskopie Zürich |
| author_corporate_role | aut |
| author_facet | Dreiländertagung Elektronenmikroskopie Zürich |
| author_sort | Dreiländertagung Elektronenmikroskopie Zürich |
| building | Verbundindex |
| bvnumber | BV008206032 |
| ctrlnum | (OCoLC)165093724 (DE-599)BVBBV008206032 |
| format | Conference Proceeding Book |
| fullrecord | <?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>02157nam a2200385 cb4500</leader><controlfield tag="001">BV008206032</controlfield><controlfield tag="003">DE-604</controlfield><controlfield tag="005">20240306 </controlfield><controlfield tag="007">t</controlfield><controlfield tag="008">930909s1993 |||| 10||| ger d</controlfield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(OCoLC)165093724</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)BVBBV008206032</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-604</subfield><subfield code="b">ger</subfield><subfield code="e">rakddb</subfield></datafield><datafield tag="041" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">ger</subfield></datafield><datafield tag="049" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-703</subfield><subfield code="a">DE-12</subfield><subfield code="a">DE-20</subfield><subfield code="a">DE-29T</subfield><subfield code="a">DE-706</subfield><subfield code="a">DE-210</subfield></datafield><datafield tag="111" ind1="2" ind2=" "><subfield code="a">Dreiländertagung Elektronenmikroskopie</subfield><subfield code="d">1993</subfield><subfield code="c">Zürich</subfield><subfield code="j">Verfasser</subfield><subfield code="0">(DE-588)5092064-9</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Abstracts</subfield><subfield code="b">Tagung der Schweizerischen Gesellschaft für Optik und Elektronenmikroskopie (SGOEM/SSOME) ; Tagung der Österreichischen Gesellschaft für Elektronenmikroskopie (ÖGEM) ; 26. Tagung der Deutschen Gesellschaft für elektronenmikroskopie e. V. (DGE)..., sowie 26. Kolloquium des Arbeitskreises für elektronenmikroskopische Direktabbildung und Analyse von Oberflächen (EDO) ; Zürich, 5. bis 11. September 1993</subfield><subfield code="c">Dreiländertagung Elektronenmikroskopie</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="a">Stuttgart</subfield><subfield code="b">Wiss. Verl.-Ges.</subfield><subfield code="c">1993</subfield></datafield><datafield tag="300" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">144 S.</subfield></datafield><datafield tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">n</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">nc</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="490" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Optik : Supplement</subfield><subfield code="v">5</subfield></datafield><datafield tag="490" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">European journal of cell biology : Supplement</subfield><subfield code="v">39</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Elektronenmikroskopie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4014327-2</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="655" ind1=" " ind2="7"><subfield code="0">(DE-588)1071861417</subfield><subfield code="a">Konferenzschrift</subfield><subfield code="y">1993</subfield><subfield code="z">Zürich</subfield><subfield code="2">gnd-content</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="0"><subfield code="a">Elektronenmikroskopie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4014327-2</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="710" ind1="2" ind2=" "><subfield code="a">Schweizerische Gesellschaft für Optik und Elektronenmikroskopie</subfield><subfield code="e">Sonstige</subfield><subfield code="0">(DE-588)3002608-8</subfield><subfield code="4">oth</subfield></datafield><datafield tag="710" ind1="2" ind2=" "><subfield code="a">Österreichische Gesellschaft für Elektronenmikroskopie</subfield><subfield code="e">Sonstige</subfield><subfield code="0">(DE-588)1029813-7</subfield><subfield code="4">oth</subfield></datafield><datafield tag="710" ind1="2" ind2=" "><subfield code="a">Deutsche Gesellschaft für Elektronenmikroskopie</subfield><subfield code="e">Sonstige</subfield><subfield code="0">(DE-588)2008211-3</subfield><subfield code="4">oth</subfield></datafield><datafield tag="710" ind1="2" ind2=" "><subfield code="a">Deutsche Gesellschaft für Elektronenmikroskopie</subfield><subfield code="b">Arbeitskreis für Elektronenmikroskopische Direktabbildung und Analyse von Oberflächen</subfield><subfield code="e">Sonstige</subfield><subfield code="0">(DE-588)512545-5</subfield><subfield code="4">oth</subfield></datafield><datafield tag="830" ind1=" " ind2="0"><subfield code="a">Optik</subfield><subfield code="v">Supplement ; 5</subfield><subfield code="w">(DE-604)BV005628654</subfield><subfield code="9">5</subfield></datafield><datafield tag="830" ind1=" " ind2="0"><subfield code="a">European journal of cell biology</subfield><subfield code="v">Supplement ; 39</subfield><subfield code="w">(DE-604)BV005628038</subfield><subfield code="9">39</subfield></datafield><datafield tag="999" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-005415341</subfield></datafield></record></collection> |
| genre | (DE-588)1071861417 Konferenzschrift 1993 Zürich gnd-content |
| genre_facet | Konferenzschrift 1993 Zürich |
| id | DE-604.BV008206032 |
| illustrated | Not Illustrated |
| indexdate | 2024-07-09T17:16:18Z |
| institution | BVB |
| institution_GND | (DE-588)5092064-9 (DE-588)3002608-8 (DE-588)1029813-7 (DE-588)2008211-3 (DE-588)512545-5 |
| language | German |
| oai_aleph_id | oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-005415341 |
| oclc_num | 165093724 |
| open_access_boolean | |
| owner | DE-703 DE-12 DE-20 DE-29T DE-706 DE-210 |
| owner_facet | DE-703 DE-12 DE-20 DE-29T DE-706 DE-210 |
| physical | 144 S. |
| publishDate | 1993 |
| publishDateSearch | 1993 |
| publishDateSort | 1993 |
| publisher | Wiss. Verl.-Ges. |
| record_format | marc |
| series | Optik European journal of cell biology |
| series2 | Optik : Supplement European journal of cell biology : Supplement |
| spelling | Dreiländertagung Elektronenmikroskopie 1993 Zürich Verfasser (DE-588)5092064-9 aut Abstracts Tagung der Schweizerischen Gesellschaft für Optik und Elektronenmikroskopie (SGOEM/SSOME) ; Tagung der Österreichischen Gesellschaft für Elektronenmikroskopie (ÖGEM) ; 26. Tagung der Deutschen Gesellschaft für elektronenmikroskopie e. V. (DGE)..., sowie 26. Kolloquium des Arbeitskreises für elektronenmikroskopische Direktabbildung und Analyse von Oberflächen (EDO) ; Zürich, 5. bis 11. September 1993 Dreiländertagung Elektronenmikroskopie Stuttgart Wiss. Verl.-Ges. 1993 144 S. txt rdacontent n rdamedia nc rdacarrier Optik : Supplement 5 European journal of cell biology : Supplement 39 Elektronenmikroskopie (DE-588)4014327-2 gnd rswk-swf (DE-588)1071861417 Konferenzschrift 1993 Zürich gnd-content Elektronenmikroskopie (DE-588)4014327-2 s DE-604 Schweizerische Gesellschaft für Optik und Elektronenmikroskopie Sonstige (DE-588)3002608-8 oth Österreichische Gesellschaft für Elektronenmikroskopie Sonstige (DE-588)1029813-7 oth Deutsche Gesellschaft für Elektronenmikroskopie Sonstige (DE-588)2008211-3 oth Deutsche Gesellschaft für Elektronenmikroskopie Arbeitskreis für Elektronenmikroskopische Direktabbildung und Analyse von Oberflächen Sonstige (DE-588)512545-5 oth Optik Supplement ; 5 (DE-604)BV005628654 5 European journal of cell biology Supplement ; 39 (DE-604)BV005628038 39 |
| spellingShingle | Abstracts Tagung der Schweizerischen Gesellschaft für Optik und Elektronenmikroskopie (SGOEM/SSOME) ; Tagung der Österreichischen Gesellschaft für Elektronenmikroskopie (ÖGEM) ; 26. Tagung der Deutschen Gesellschaft für elektronenmikroskopie e. V. (DGE)..., sowie 26. Kolloquium des Arbeitskreises für elektronenmikroskopische Direktabbildung und Analyse von Oberflächen (EDO) ; Zürich, 5. bis 11. September 1993 Optik European journal of cell biology Elektronenmikroskopie (DE-588)4014327-2 gnd |
| subject_GND | (DE-588)4014327-2 (DE-588)1071861417 |
| title | Abstracts Tagung der Schweizerischen Gesellschaft für Optik und Elektronenmikroskopie (SGOEM/SSOME) ; Tagung der Österreichischen Gesellschaft für Elektronenmikroskopie (ÖGEM) ; 26. Tagung der Deutschen Gesellschaft für elektronenmikroskopie e. V. (DGE)..., sowie 26. Kolloquium des Arbeitskreises für elektronenmikroskopische Direktabbildung und Analyse von Oberflächen (EDO) ; Zürich, 5. bis 11. September 1993 |
| title_auth | Abstracts Tagung der Schweizerischen Gesellschaft für Optik und Elektronenmikroskopie (SGOEM/SSOME) ; Tagung der Österreichischen Gesellschaft für Elektronenmikroskopie (ÖGEM) ; 26. Tagung der Deutschen Gesellschaft für elektronenmikroskopie e. V. (DGE)..., sowie 26. Kolloquium des Arbeitskreises für elektronenmikroskopische Direktabbildung und Analyse von Oberflächen (EDO) ; Zürich, 5. bis 11. September 1993 |
| title_exact_search | Abstracts Tagung der Schweizerischen Gesellschaft für Optik und Elektronenmikroskopie (SGOEM/SSOME) ; Tagung der Österreichischen Gesellschaft für Elektronenmikroskopie (ÖGEM) ; 26. Tagung der Deutschen Gesellschaft für elektronenmikroskopie e. V. (DGE)..., sowie 26. Kolloquium des Arbeitskreises für elektronenmikroskopische Direktabbildung und Analyse von Oberflächen (EDO) ; Zürich, 5. bis 11. September 1993 |
| title_full | Abstracts Tagung der Schweizerischen Gesellschaft für Optik und Elektronenmikroskopie (SGOEM/SSOME) ; Tagung der Österreichischen Gesellschaft für Elektronenmikroskopie (ÖGEM) ; 26. Tagung der Deutschen Gesellschaft für elektronenmikroskopie e. V. (DGE)..., sowie 26. Kolloquium des Arbeitskreises für elektronenmikroskopische Direktabbildung und Analyse von Oberflächen (EDO) ; Zürich, 5. bis 11. September 1993 Dreiländertagung Elektronenmikroskopie |
| title_fullStr | Abstracts Tagung der Schweizerischen Gesellschaft für Optik und Elektronenmikroskopie (SGOEM/SSOME) ; Tagung der Österreichischen Gesellschaft für Elektronenmikroskopie (ÖGEM) ; 26. Tagung der Deutschen Gesellschaft für elektronenmikroskopie e. V. (DGE)..., sowie 26. Kolloquium des Arbeitskreises für elektronenmikroskopische Direktabbildung und Analyse von Oberflächen (EDO) ; Zürich, 5. bis 11. September 1993 Dreiländertagung Elektronenmikroskopie |
| title_full_unstemmed | Abstracts Tagung der Schweizerischen Gesellschaft für Optik und Elektronenmikroskopie (SGOEM/SSOME) ; Tagung der Österreichischen Gesellschaft für Elektronenmikroskopie (ÖGEM) ; 26. Tagung der Deutschen Gesellschaft für elektronenmikroskopie e. V. (DGE)..., sowie 26. Kolloquium des Arbeitskreises für elektronenmikroskopische Direktabbildung und Analyse von Oberflächen (EDO) ; Zürich, 5. bis 11. September 1993 Dreiländertagung Elektronenmikroskopie |
| title_short | Abstracts |
| title_sort | abstracts tagung der schweizerischen gesellschaft fur optik und elektronenmikroskopie sgoem ssome tagung der osterreichischen gesellschaft fur elektronenmikroskopie ogem 26 tagung der deutschen gesellschaft fur elektronenmikroskopie e v dge sowie 26 kolloquium des arbeitskreises fur elektronenmikroskopische direktabbildung und analyse von oberflachen edo zurich 5 bis 11 september 1993 |
| title_sub | Tagung der Schweizerischen Gesellschaft für Optik und Elektronenmikroskopie (SGOEM/SSOME) ; Tagung der Österreichischen Gesellschaft für Elektronenmikroskopie (ÖGEM) ; 26. Tagung der Deutschen Gesellschaft für elektronenmikroskopie e. V. (DGE)..., sowie 26. Kolloquium des Arbeitskreises für elektronenmikroskopische Direktabbildung und Analyse von Oberflächen (EDO) ; Zürich, 5. bis 11. September 1993 |
| topic | Elektronenmikroskopie (DE-588)4014327-2 gnd |
| topic_facet | Elektronenmikroskopie Konferenzschrift 1993 Zürich |
| volume_link | (DE-604)BV005628654 (DE-604)BV005628038 |
| work_keys_str_mv | AT dreilandertagungelektronenmikroskopiezurich abstractstagungderschweizerischengesellschaftfuroptikundelektronenmikroskopiesgoemssometagungderosterreichischengesellschaftfurelektronenmikroskopieogem26tagungderdeutschengesellschaftfurelektronenmikroskopieevdgesowie26kolloquiumdesarbeitskreisesfurelekt AT schweizerischegesellschaftfuroptikundelektronenmikroskopie abstractstagungderschweizerischengesellschaftfuroptikundelektronenmikroskopiesgoemssometagungderosterreichischengesellschaftfurelektronenmikroskopieogem26tagungderdeutschengesellschaftfurelektronenmikroskopieevdgesowie26kolloquiumdesarbeitskreisesfurelekt AT osterreichischegesellschaftfurelektronenmikroskopie abstractstagungderschweizerischengesellschaftfuroptikundelektronenmikroskopiesgoemssometagungderosterreichischengesellschaftfurelektronenmikroskopieogem26tagungderdeutschengesellschaftfurelektronenmikroskopieevdgesowie26kolloquiumdesarbeitskreisesfurelekt AT deutschegesellschaftfurelektronenmikroskopie abstractstagungderschweizerischengesellschaftfuroptikundelektronenmikroskopiesgoemssometagungderosterreichischengesellschaftfurelektronenmikroskopieogem26tagungderdeutschengesellschaftfurelektronenmikroskopieevdgesowie26kolloquiumdesarbeitskreisesfurelekt AT deutschegesellschaftfurelektronenmikroskopiearbeitskreisfurelektronenmikroskopischedirektabbildungundanalysevonoberflachen abstractstagungderschweizerischengesellschaftfuroptikundelektronenmikroskopiesgoemssometagungderosterreichischengesellschaftfurelektronenmikroskopieogem26tagungderdeutschengesellschaftfurelektronenmikroskopieevdgesowie26kolloquiumdesarbeitskreisesfurelekt |