Hochauflösende Röntgendiffraktometrie zur Charakterisierung von II-VI-Halbleiter-Heterostrukturen:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Möller, Markus O. (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:Undetermined
Veröffentlicht: 1991
Schlagworte:
Beschreibung:Würzburg, Univ., Diss., 1992
Beschreibung:VIII, 151 S. Ill., graph. Darst.

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