(1993). X-ray diffraction at elevated temperatures: A method for in situ process analysis. VCH.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)X-ray Diffraction at Elevated Temperatures: A Method for in Situ Process Analysis. New York, NY u.a: VCH, 1993.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)X-ray Diffraction at Elevated Temperatures: A Method for in Situ Process Analysis. VCH, 1993.
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