Fern-Infrarot-Sättigungsspektroskopie an n-GaAs: Unters. an d. Is-2p-Resonanz flacher Störstellen in n-GaAs
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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Schilz, Arno H. (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:Undetermined
Veröffentlicht: 1989
Schlagworte:
Beschreibung:Regensburg, Univ., Dipl.-Arb.
Beschreibung:89 S.

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