Entwicklung, Aufbau und Erprobung eines Verfahrens zur Absolutmessung geometrischer Gitterparameter von Einkristallen mit hoher Präzision:
Gespeichert in:
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| Format: | Mikrofilm Buch |
| Sprache: | German |
| Veröffentlicht: |
1985
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| Beschreibung: | Jena, Univ., Diss. - Mikroreprod. e. Ms. 95 S. |
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