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Eichinger, P. (1986). Anwendung der Sekundärionen-Massenspektrometrie in der Mikroelektronik (Als Ms gedr.). Fachinformationszentrum Energie, Physik, Mathematik.

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Eichinger, Peter. Anwendung Der Sekundärionen-Massenspektrometrie in Der Mikroelektronik. Als Ms gedr. Eggenstein-Leopoldshafen: Fachinformationszentrum Energie, Physik, Mathematik, 1986.

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Eichinger, Peter. Anwendung Der Sekundärionen-Massenspektrometrie in Der Mikroelektronik. Als Ms gedr. Fachinformationszentrum Energie, Physik, Mathematik, 1986.