Leitfähigkeitsmessungen an Edelmetall-Silizium-Schichten:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Sporbert, Sigrid (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:Undetermined
Veröffentlicht: 1986
Schlagworte:
Beschreibung:Regensburg, Univ., Dipl.-Arbeit
Beschreibung:97 Bl. Ill., graph. Darst.

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