Drift- und Rauschprobleme in Mikrowellenspektrometern mit hoher Nachweisempfindlichkeit am Beispiel eines Sättigungseffektspektrometers:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Mahlberg, Alfred (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: 1983
Schlagworte:
Beschreibung:Aachen, Techn. Hochsch., Diss.
Beschreibung:VI, 110 S. graph. Darst.

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