Untersuchung des Einflusses von Dotierungen auf das Kristallpotential von Silizium durch Beugung im konvergenten Elektronenbündel:
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Bibliographic Details
Main Author: Voss, Reiner (Author)
Format: Microfilm Book
Language:Undetermined
Published: 1979
Subjects:
Item Description:Berlin, Techn. Univ., Diss.
Physical Description:92, 22 Bl.: 2 Mikrofiches 24 x

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