Untersuchung der Ursache für das Burstrauschen von bipolaren Transistoren in integrierten Schaltkreisen:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Hintzmann, Kurt-Dieter (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:Undetermined
Veröffentlicht: Eggenstein-Leopoldshafen Kernforschungszentrum 1980
Schriftenreihe:Deutschland <Bundesrepublik>. Bundesmin. für Forschung und Technologie: Forschungsbericht. Technologische Forschung und Entwicklung. 1980,96=Elektronik.
Schlagworte:
Beschreibung:32 S. graph. Darst.

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