Charakterisierung von Defekten in Silizium nach Bestrahlung mit leichten Ionen:
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| Format: | Abschlussarbeit Buch |
| Sprache: | German |
| Veröffentlicht: |
Wien
VWGÖ
1993
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| Schriftenreihe: | Dissertationen der Johannes-Kepler-Universität Linz
103 |
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