Untersuchungen über die Strahlenschädigung von Halbleiterbauelementen sowie über die Verbesserung der Strahlenresistenz von Planartransistoren durch Bestrahlungs-Ausheil-Zyklen:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Format: Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: München ZLDI 1970
Schriftenreihe:Deutschland, Bundesminister für Bildung und Wissenschaft, Bundesrepublik: Forschungsbericht / Weltraumforschung 1970,26
Schlagworte:
Beschreibung:180 S. graph. Darst.

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